IPSJ/SIGSE パターンワーキンググループ 告知 ML(本文)

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【パターン WG 】 第7回パターンワー キンググルー プ勉強会

※本メールは、パターンワーキンググループが関連するセミナーにて
アンケートにお答えいただいた皆様、パターンワーキンググループの
Web サイトより告知登録をされた皆様に配信させていただきます。

■ IPSJ/SIGSE パターンワーキンググループ第7回勉強会のお知らせ
http://patterns-wg.fuka.info.waseda.ac.jp/study/

情報処理学会(IPSJ)ソフトウェア工学研究会(SIGSE)のパターンワーキング
グループでは,ソフトウェアパターンの理解を深め,パターン技術の普及や
展開をめざして,毎月勉強会を開催しています.

このたび,第7回勉強会を以下の要綱で開催することになりましたので,
ご案内いたします.
今回のテーマは「単体テストの観点からみたデザイン・パターン」です.

事前申込み不要,参加無料ですので,是非皆さんの積極的なご参加を
お願いします.

日時: 2004 年 8 月 4 日(水) 19:00 - 20:50
会場: 日本アイ・ビー・エム(株)箱崎事業所
   1階 AVルーム(ロビー・フロア奥)
   http://www-6.ibm.com/jp/ibm/map/hakozaki.html
主催: 情報処理学会ソフトウェア工学研究会パターンワーキンググループ
参加費: 無料
参加方法:
 事前の申し込みは不要です。 19:00 までに直接、会場にお越しください。
照会先: patterns-wg-seminar@fuka.info.waseda.ac.jp

プログラム コーディネータ:  太田 健一郎(日本アイ・ビー・エム)

タイトル:「単体テストの観点からみたデザイン・パターン」
発表者: 太田 健一郎(日本アイ・ビー・エム)

J2EEシステムのような多数のコンポーネントから構成され,複雑化した
アプリケーションの品質を保証するためには,単体テストのレベルで
欠陥を発見しておくことが重要となります。この単体テストを効果的に
実施するためには,設計段階からテスト容易性を考慮する必要があります。

本発表では効果的な単体テストの実施とデザイン・パターンの関係について
Dependency Injection や Mock Object といった具体的なデザイン・
パターンをいくつか取り上げながら,以下の問題を考察します。

・設計の考慮点としてテスト容易性を考える場合,デザイン・パターンを
  テストの観点から見てみるのは有用ではないか
・本来の意図とは異なるが,結果としてテスト容易性に役立つような
  デザイン・パターンが存在するのではないか

本発表を叩き台にして,参加者が単体テストに限らず,広く効果的な
テストを実施するために工夫している点(要件定義,分析,設計,構成管理,
パターン,ツール)についてディスカッションして頂きたいと思います。

本発表でテストについて更に興味を持った方はぜひテストパターン
サブタスクに参加していただけると幸いです。

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(社)情報処理学会 ソフトウェア工学研究会 パターンワーキンググループ
http://patterns-wg.fuka.info.waseda.ac.jp/
配信中止は http://patterns-wg.fuka.info.waseda.ac.jp/announce/ まで、
ご意見、ご感想は owner-patterns-wg@fuka.info.waseda.ac.jp までお願いします